當(dāng)前位置:廣東愛(ài)佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司>>可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱>>溫度測(cè)試箱>> AP-KS-225電路板快速溫變?cè)囼?yàn)箱
電路板快速溫變?cè)囼?yàn)箱是一種用于模擬電路板在端溫度快速變化環(huán)境下的工作性能的測(cè)試設(shè)備。這種試驗(yàn)箱能夠快速地調(diào)整內(nèi)部溫度,從而在短時(shí)間內(nèi)模擬電路板可能遇到的高溫、低溫以及溫度急劇變化的情況。
主要應(yīng)用包括:
可靠性測(cè)試:通過(guò)模擬電路板在端溫度條件下的工作情況,評(píng)估其可靠性和穩(wěn)定性。這種測(cè)試可以幫助制造商識(shí)別潛在的設(shè)計(jì)或制造缺陷,從而改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量。
內(nèi)箱尺寸:500*750*600mm (W* H *D)
外型尺寸(約):1050*1850*1100 mm (W* H *D)
開(kāi)孔1:開(kāi)于設(shè)備 左側(cè) 直徑200mm*1個(gè)用于裝客戶的玻璃,做好卡玻璃的卡槽;孔中心距地面1150mm高,并配加熱除霜裝置
開(kāi)孔2:直徑50mm,位于左側(cè)開(kāi)直徑200的孔下面用來(lái)接線路使用
加玻璃門:玻璃門上開(kāi)2個(gè)直徑130mm 孔
溫度范圍:-60℃~+150℃(-40~+80℃快速升降)(水冷式)
濕度范圍:20 %~98 % R.H
降溫速率:非線性升溫5℃/min(空載)
升溫速率:非線性降溫5℃/min(空載)
壽命預(yù)測(cè):通過(guò)快速溫變循環(huán),可以加速電路板的老化過(guò)程,從而預(yù)測(cè)其在正常使用條件下的壽命。這對(duì)于評(píng)估產(chǎn)品生命周期和制定維護(hù)計(jì)劃非常重要。
質(zhì)量控制:在電路板生產(chǎn)過(guò)程中,快速溫變?cè)囼?yàn)箱可以用于檢測(cè)每批產(chǎn)品的性能一致性,確保產(chǎn)品符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。
研發(fā)支持:在電路板設(shè)計(jì)階段,使用快速溫變?cè)囼?yàn)箱可以幫助工程師了解設(shè)計(jì)在不同溫度條件下的性能表現(xiàn),從而優(yōu)化設(shè)計(jì)方案。
特點(diǎn)通常包括:
快速升降溫:能夠在短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)溫度的快速升高和降低,以模擬實(shí)際使用中可能遇到的溫度變化。
精確控溫:采用先進(jìn)的溫度控制系統(tǒng),確保試驗(yàn)箱內(nèi)部溫度的穩(wěn)定性和精確性。
大容量:試驗(yàn)箱內(nèi)部通常具有足夠的空間,可以容納多個(gè)電路板同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。
安全保護(hù):具備多種安全保護(hù)措施,如過(guò)溫保護(hù)、過(guò)流保護(hù)等,確保測(cè)試過(guò)程的安全可靠。
數(shù)據(jù)記錄與分析:能夠自動(dòng)記錄測(cè)試過(guò)程中的溫度變化和電路板性能數(shù)據(jù),并提供數(shù)據(jù)分析功能,幫助用戶更好地了解測(cè)試結(jié)果。
總之,電路板快速溫變?cè)囼?yàn)箱是電子制造行業(yè)中重要的測(cè)試設(shè)備之一,它能夠幫助制造商評(píng)估電路板在不同溫度條件下的性能表現(xiàn),提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。